AHA 2012年会上，美国西北大学的Steven Swiryn博士报告了RATE(心脏节律管理装置人群中房速和心房颤动发作的注册)研究结果，显示长时间的心房颤动或房速发作和植入心脏节律管理装置的患者不良事件危险增高相关。
　　RATE入选了2007～2012年间5379例植入心脏节律控制装置的患者，其中3141例植入起搏器，2238例植入ICD。平均随访约2年，注册从20 153份判读过的心电图中收集数据。研究中共有2232次住院，11例院内心脏性死亡，350例尚未完全判定的院外死亡。由2个判读者评估600例随机选择的患者（300例起搏器，300例ICD）的事件ECG，一致性很高。短阵发作定义为心律失常在1次心电图描记时间内开始和结束，而长时间发作定义为持续超过1次心电图描记时间。对起搏器患者的多因素回归分析显示，与无房速/心房颤动发作患者相比，经历长时间发作的患者包括因心房颤动入院、心衰、室速、卒中/TIA、晕厥或院内心脏性死亡的不良事件风险显著升高(OR 1.84)，ICD患者中的结果也与此类似(OR 1.56)，尤其是因心房颤动入院的风险增高显著(OR 5.86)。而短阵室速/室颤发作的起搏器/ICD患者，不良事件风险未增加。
　　Mayo医院的Bernard Gersh医生指出，RATE注册的结果进一步确认了ASSERT研究的发现，即起搏器患者的亚临床房性心律失常很常见，并且可预测卒中或全身性栓塞。他指出，使用心脏节律控制装置后，无症状性心房颤动发作增多，而这部分患者卒中风险增高，应当考虑对这部分患者实施抗凝治疗。